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老化测试箱
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更新时间:2024-12-03  |  阅读:1748

详情介绍

在现代电子测试中,老化测试箱被广泛应用,温度控制对电子设备的测试具有决定性影响,测试箱温度控制系统具有大滞后、非线性、时变等特性。 [1] 

老化箱的系统结构

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老化箱的温度控制系统是以微处理器为核心,采用PID控制,使得温度可以控制在测试范围当中,加热丝的加热功率为2000W,温控箱的温度范围为0~150℃,实用的电压为市电交流220V。
整个系统由4个模块组成,如图1所示,采用MUC控制,其内部包括A/D和D/A转换模块、继电器和辅助继电器驱动电路。老化测试箱内部有用于温度检测的PT100,以及用于加热的加热丝。

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由于老化箱一般可以看作带有纯滞后环节的一阶对象,其传递函数可以用以下公式表示:
G(S)=KTS+1e-τS;
通过测量系统温度的飞升曲线,可以得到老化箱的传递函数的参数:放大系数K=120,时间常数T=1000,滞后时间τ=60s。 [1] 
由于PID控制算法具备结构简单、可靠性高等优点,因此在工业控制领域中得到广泛应用。尤其当微控制器应用在控制领域后,PID控制算法使用起来更加方便,实现了软件的数字PID控制算法。数字PID控制器比传统模拟PID控制器的控制性能更好,广泛应用在工业生产过程中。它是将比例、积分、微分控制并联在一起。假定在系统给定与反馈出现偏差:
e(t)= r(t)- y(t) (3)
可以用如下表达式表示:
表达式表达式
(4)
其中,u(t) 为控制器的输出,Kp为比例系数,Ti为积分时间系数,Td为微分时间系数由式(3) 可以得到PID控制器的传递函数为:
表达式表达式
由式(4) 可知:
(1) 比例环节: 其主要作用是放大误差作用,当给定和输出出现偏差,控制器使偏差放大,比例系数越大,控制过程的过渡越快,但是过大的比例系数也会引起过高的超调量。
(2) 积分环节: 为了消除误差,控制器必须引入积分环节,积分环节的引入,随着时间的增加,积分项会增大,它的输出增大将进一步减小稳态误差。
(3) 微分环节: 由于微分具备对误差提前报告的作用,适当的微分系数可以微分加快系统响应过程


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